基于扫描探针显微技术的先进材料局部多场耦合现象探究
2019.01.02
投稿：谢姚部门：机电工程与自动化学院浏览次数：
活动信息
时间： 2019年01月09日 14:00
地点： 校本部东区9号楼1002A
报告题目：Probing of Local Multifield Coupling Phenomena of Advanced Materials by Scanning Probe Microscopy Techniques
报告人：Zeng Kaiyang Department of Mechanical Engineering，National University of Singapore
地址：上海市宝山区上大路99号
邮编：200444 电话总机：021-96928188
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